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기존의 Single Beam 방식의 분광광도계는 기준광과 시료의 측정광의 세기를 측정하는 시간의 차이가 발행하며 시간에 따른 광원의 변동에 의해 시료 측정 오차가 발생합니다.
OPTIZEN Alpha는 이와 같은 문제를 해결하기 위하여, 광원으로부터 나온 빛을 이중빔으로 분리하여, 기준광과 시료 측정광을 동시에 측정하는 시스템을 갖춘 더블빔(double-beam) 방식의 분광광도계 입니다.
| Photometrics System | Double-beam type |
|---|---|
| Spectral Bandwidth | 1 nm (190 to 1100 nm) |
| Wavelength Range | 190 to 1100 nm |
| Wavelength Display (setting) | 0.1 nm |
| Wavelength Accuracy | ± 0.3 nm (For entire range) ± 0.1 nm (656.1 nm) |
| Wavelength Repeatability | <± 0.1 nm |
| Wavelength Setting | 0.05 nm |
| Slew Rate | About 45,000 nm/min |
| Scanning Speed | Max 6,000 nm/min |
| Photometric Range | Absorbance: -4 A to 4 A |
| Photometric Repeatability | ± 0.0002 at 0.5 A ± 0.0006 at 1.0 A ± 0.001 at 2.0 A |
| Photometric Accuracy | Less than ± 0.005 A at 1.0 A |
| Baseline Stability | < 0.0003 A/h |
| Baseline Flatness | <± 0.0005 A |
| Lamp Interchange Wavelength | 340~410 nm (Default 370 nm) |
| Power Requirement | 100~240 V; 50~60 Hz |
| Weight (kg) | 14 kg |
| Dimensions (WｘDｘH) | 520 mmｘ500 mmｘ200 mm |
기존 PC 소프트웨어의 모든 기능을 OPTIZEN Alpha에 탑재하여 보다 빠르고 편리해졌습니다.
빠르고 유연한 소프트웨어로 기존 제품에 비해 1.5배 이상 증가한 분석 속도로 최상의 결과를 제공합니다.
콤팩트하게 설계된 OPTIZEN Alpha는 실험 공간의 효율성을 높여 드립니다.
OPTIZEN Alpha는 케이랩(주)의 독자적인 기술을 바탕으로 설계부터 제조까지 국내에서 이루어지고 있어 신속한 서비스가 가능합니다.
OPTIZEN Alpha는 자외선부터 가시광선을 포함하는 광대역에서 고정밀/고해상도 측정이 가능하도록 설계되어 다양한 응용분야에서 활용될 수 있습니다.
감성적인 디자인으로 이제 또 하나의 즐거움을 누리실 수 있습니다.
케이랩(주)는 기술적 경험을 바탕으로 초정밀 주사(Scanning) 방식과 고분해능 어레이 센서방식 등이 적용된 다양한 광대역 분광광도계 개발과 보급에 앞장서 왔습니다. 또한 제품의 편리성과 고객의 성능에 대한 만족도를 최고의 가치로 생각하고 이를 위해 도전합니다.
