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Morphologi G3採用自動化的顯微鏡和圖像分析技術，實現對顆粒粒度和形狀的準確、可重複測量。通過對成千上萬個顆粒的分析，而得到顆粒粒度和形狀信息，而且顆粒形狀數據包含所有顆粒的圖像，從而在視覺上對測量數據有進一步的理解。
一套從樣品分散到數據分析能夠實現完全自動化並且可程序控制之量測分析
更加詳細對顆粒型態之認識，由其是在生產/製程各環節所表現出來的特徵
深刻的貫穿研發到生產各個階段對顆粒材料之了解
最少的人為誤差，在顆粒大小與形狀分析上有高度統計意義
高品質之設計和PAT新工具
自動化顯微鏡操作，可節省時間與勞力
光學系統：Nikon
物鏡倍率：1x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x
量測粒徑範圍：適用於 0.5μm 到 3000μm 的乾粉樣品
1x物鏡：32um~3000um
2.5x物鏡：13um~1000um
5x物鏡：6.5um~420um
10x物鏡：3.5um~210um
20x物鏡：1.75um~100um
50x物鏡：0.5um~40um
形狀量測：為每個顆粒計算多個形狀參數，並可顯示不同基準之粒徑分布，例如真圓度、長度、寬度、周長、面積、長寬比、粗糙度、延伸度、亮度等
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