Phân tích quang học của các giọt chất lỏng ở trên kim định lượng hoặc được nhỏ lên trên bề mặt rắn tạo điều kiện thuận lợi cho việc xác định các thông số bề mặt và pha khác nhau.
Hệ thống đo góc tiếp xúc quang học và phân tích viền xung quanh dòng OCA kết hợp quang học độ phân giải cao, định lượng chất lỏng chính xác và định vị mẫu chính xác để trở thành các hệ thống đo mạnh mẽ và đáng tin cậy.