Thiết bị đo tính dẫn nhiệt và độ khuếch tán
TA Instruments cung cấp các thiết bị đa dạng và toàn diện nhất để đo lường đặc tính truyền nhiệt của nhiều loại vật liệu với nhiệt độ khác nhau một cách chính xác nhất.
Độ dẫn nhiệt, độ khuếch tán nhiệt và nhiệt dung - có thể xác định khả năng lưu trữ và truyền nhiệt của vật liệu. Việc đo lường chính xác các đặc tính này rất quan trọng đối với bất kỳ quá trình hoặc vật liệu nào trải qua gradient nhiệt độ/ tốc độ lớn, hoặc khả năng chịu sự thay đổi nhiệt độ.
Thiết bị đo độ khuếch tán Flash
Kỹ thuật Light Flash cung cấp thông tin về khả năng lưu trữ và truyền nhiệt của vật liệu thông qua các phép đo độ khuếch tán nhiệt, độ dẫn nhiệt và nhiệt dung riêng. Sự tìm hiểu kỹ lưỡng về các đặc tính này rất quan trọng đối với bất kỳ quá trình hoặc vật liệu nào trải qua gradient nhiệt độ/ tốc độ lớn, hoặc khả năng chịu sự thay đổi nhiệt độ. Đạt được kết quả chính xác của các đặc tính này là điều cần thiết để lập mô hình và quản lý nhiệt, cho dù thành phần quan tâm được sử dụng để cách nhiệt, dẫn điện hay chỉ đơn giản là chịu đựng sự thay đổi nhiệt độ. Những thông tin về các đặc tính này thường được sử dụng trong các mô hình truyền nhiệt ở mọi mức độ phức tạp. Sự đo lường các đặc tính truyền nhiệt cũng cung cấp thông tin quan trọng về thành phần, độ tinh khiết và cấu trúc của vật liệu cũng như các đặc tính hiệu suất thứ và khả năng chịu đựng vấn đề sốc nhiệt.
TA Instruments cung cấp các máy phân tích khuếch tán Laser và Xenon Light Flash có khả năng đo độ khuếch tán nhiệt bằng phương pháp flash từ nhiệt độ -150 độ C tới 2800 độ C. Tất cả các hệ thống bao gồm khả năng thử nghiệm nhiều mẫu giúp tăng năng suất lên gấp nhiều lần. Lập bản đồ xung quang học chính xác và các mô hình phân tích dữ liệu mới nhất giúp nền tảng Discovery Flash trở thành hệ thóng có những kết quả chính xác nhất.
Discovery Laser Flash DLF 2800 là một thiết bị tiên tiến để đo độ khuếch tán nhiệt và nhiệt dung riêng của vật liệu từ nhiệt độ phòng đến 2800 độ C. Thiết kế đặc biệt kết hợp công nghệ laser, quang học laser, máy dò & lò độc quyền, và cùng với băng chuyền lấy mẫu 6 vị trí độc đáo - đảm bảo độ chính xác của những phép đo, độ thông lượng của các mẫu. Với khả năng hoạt động trong điều kiện khí quyền bao gồm khí trơ hoặc chân không, DLF 2800 có thể xác định nhiều loại vật liệu như polyme, gốm sứ, cacbon, than chì, vật liệu tổng hợp, thuỷ tinh, kim loại và hợp kim.
Tính năng và lợi ích:
Discovery Laser Flash DLF 1600 là một thiết bị tiên tiến để đo độ khuếch tán nhiệt và nhiệt dung riêng của vật liệu từ nhiệt độ phòng đến 1600 độ C. Thiết kế đặc biệt kết hợp công nghệ laser, quang học laser, máy dò, lò nung độc quyền cùng với băng chuyền lấy mẫu 6 vị trí độc đáo - đảm bảo độ chính xác của những phép đo, thông lượng của các mẫu. Với khả năng hoạt động trong điều kiện khí quyền bao gồm khí trơ hoặc chân không, DLF 1600 có thể xác định nhiều loại vật liệu như polyme, gốm sứ, cacbon, than chì, vật liệu tổng hợp, thuỷ tinh, kim loại và hợp kim.
Tính năng và lợi ích:
Laser Flash DLF 1200 là thiết bị nhỏ gọn để bàn có khả năng đo sự khuếch tán nhiệt, độ dẫn nhiệt và nhiệt dung của vật liệu từ nhiệt độ phòng đến 1200 độ C. DLC 1200 có nguồn laser độc quyền với năng lượng 17 Joules để kiểm tra nhiều mẫu trong các điều kiện khắt khe nhất. Với thiết kế khay 4 mẫu khả năng tăng cường năng suất không còn là vấn đối với DLC 1200. Đây là thiết bị đèn flash chiếu sáng để bàn duy nhất có sẫn nguồn xung laser để nâng cao độ chính xác và khả năng vượt trội hơn so với tất cả các thiết kế Xenon light source cạnh tranh.
Tính năng và lợi ích:
The Discovery Xenon Flash DXF 900 - nền tảng có nguồn High-Speed Xenon-pulse Delivery được cấp bằng sáng chế và anamorphic Light Pipe nhiều chức năng. Các quang học này kết hợp với nhau để tạo ra một xung ánh sáng có công suất vượt trội và cường độ mẫu đồng nhất, đồng thời ngăn chặn quá trình over-flash mẫu. Thiết kế của TA Instruments High-energy Xenon có khả năng thử nghiệm các mẫu có đường kính 25,4 mm trong phạm vi nhiệt độ từ môi trường xung quanh đến 900 độ C. Việc sử dụng nhiều mẫu làm giảm các sai sót liên quan đến tính không đồng nhất và cho phép đo lường các vật liệu tổng hợp phân tán kém. Nền tảng DXF được thiết kế cho các chương trình nghiên cứu và phát triển cũng như kiểm soát sản xuất.
Chi tiết và lợi ích:
The Discovery Xenon Flash DXF 500 - nền tảng có nguồn High-Speed Xenon-pulse Delivery được cấp bằng sáng chế và anamorphic Light Pipe nhiều chức năng. Các quang học này kết hợp với nhau để tạo ra một xung ánh sáng có công suất vượt trội và cường độ mẫu đồng nhất, đồng thời ngăn chặn quá trình over-flash mẫu. Thiết kế của TA Instruments High-energy Xenon có khả năng thử nghiệm các mẫu có đường kính 25,4 mm trong phạm vi nhiệt độ từ môi trường xung quanh đến 500 độ C. Việc sử dụng nhiều mẫu làm giảm các sai sót liên quan đến tính không đồng nhất và cho phép đo lường các vật liệu tổng hợp phân tán kém. Nền tảng DXF được thiết kế cho các chương trình nghiên cứu và phát triển cũng như kiểm soát sản xuất.
Chi tiết và lợi ích:
The Discovery Xenon Flash 200+ - nền tảng có nguồn High-Speed Xenon-pulse Delivery được cấp bằng sáng chế và anamorphic Light Pipe nhiều chức năng. Các quang học này kết hợp với nhau để tạo ra một xung ánh sáng có công suất vượt trội và cường độ mẫu đồng nhất, đồng thời ngăn chặn quá trình over-flash mẫu. Thiết kế của TA Instruments High-energy Xenon có khả năng thử nghiệm các mẫu có đường kính 25,4 mm trong phạm vi nhiệt độ từ môi trường xung quanh từ -175 độ C đến 900 độ C. Việc sử dụng nhiều mẫu làm giảm các sai sót liên quan đến tính không đồng nhất và cho phép đo lường các vật liệu tổng hợp phân tán kém. Nền tảng DXF được thiết kế cho các chương trình nghiên cứu và phát triển cũng như kiểm soát sản xuất.
Chi tiết và lợi ích: