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エレクトロフィジック　膜厚計　ミニテスト70シリーズ

テクノロジー事業部門

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DKSH マーケットエクスパンションサービスジャパン株式会社
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  • エレクトロフィジック社 ミニテスト70シリーズ 製品カタログ - プロテクト
    (PDF, 423 KB)
DKSH-Japan-Electrophysik-MT70

ポケットサイズの膜厚計 ミニテスト70シリーズは、エレクトロフィジック社の独自技術 SIDSP®テクノロジーを採用している、高精度の膜厚計のエントリーモデルです。

【ミニテスト70シリーズの特長】
・シンプル設計
・統計機能付き

【ラインナップ】
・ミニテスト70F（磁性金属用：測定範囲0-3000μm）
・ミニテスト70FN（磁性金属、非磁性金属兼用：測定範囲0-3000μm(磁性金属), 0-2500μm(非磁性金属) ）
・素地を自動で識別するデュアルセンサー内蔵（FNモデル）

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エレクトロフィジック（Elektrophysik）サプライヤー紹介：　エレクトロフィジック（Elektrophysik）社はドイツのケルンに本社を構える膜厚計のトップメーカーです。1947年にエリッヒ・ステイングローバー博士によって創立されて以来約70年の製造・販売実績があり、世界各国で事業を展開しています。同社は非破壊膜厚測定の分野におけるパイオニアとして、膜厚測定の国際標準化に加えて新製品の開発を成功裏に発展させてきました。すべての製品は品質マネジメントプログラムに関する国際規格ISO9001に基づく徹底した品質管理の下、ドイツ国内で製造されています

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[エレクトロ, エレクトロフィジック, エレクトロ・フィジック, 膜厚計, ミニテスト, MT70, 非破壊　膜厚計, 超音波　膜厚計]

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